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Elite X荧光光谱测厚仪 XTU-50A

膜厚仪

  • 型号:XTU-50A
  • 品牌:Elite
  • 价格:
项目参数
测量元素范围Cl(17)-U(92)
涂镀层分析范围P(15)-U(92)可区分检测电镀镍和化学镍
分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析
软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误
X射线装置W靶普通射线管
准直器Ø 0.2 mm;Ø 0.5 mm;准直器任意选择一种
最近测距光斑扩散度10%
测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能
对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍
样品台尺寸500mm*360mm
移动方式高精密XY手动滑轨
可移动范围50mm*50mm
随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱



标签:   膜厚仪 测厚仪 X-ray测厚仪 X荧光测厚仪

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