仪器介绍：
FT110A 帮助诸多的行业确保符 合电镀规范，以避免出现性能低 下的风险以及与废料或返工相关 的成本。
此外，该仪器可减少一 系列测量所需的时间，从而帮助 提高生产力。
在任何质量保证或质量控制系统中，准确性和可 靠性均至关重要，拥有改良的 X 射线荧光技术的 FT110A将使您的产品满足最高标准的行业规范 要求。
借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能 和大型样品台，确保这台镀层分析仪易于使用并 提高分析效率。
基于 Windows 系统的 X-ray Station软件提供直观 的用户界面，用户可对该仪器进行全面控制。
通 过将数据直接整合到 Microsoft™ Word 和 Excel 中来简化您的质量保证/质量控制流程。
仪器特点：
多准直器组件 - 0.1 和0.2 毫米双准直器是标准配置， 可灵活处理不同尺寸的零件。
广泛的分析范围 - 可确定从钛 (22) 到铀 (92) 等元素的 镀层厚度。
校准和 FP 方法 - 使用经验和基本参数方法来确定薄膜 厚度和成分。
大型测量室尺寸 - FT110A 可容纳尺寸高达 500 x 400 x 150 毫米且重量达到 10 千克的样品。
一键式测量 - 使用中心搜索功能进行简化的自动测量意
味着几乎任何人都可以测试样品。
性能优势：
1.通过自动定位功能提高操作
测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高
通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统（选配）
可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5. 对应大型印刷线路板（选配）
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6. 低价位
与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。
