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Thick800A镀层测厚仪

2017-09-14 13:32:14 optima 32

Thick800A镀层测厚仪


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Thick800A主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,属于能量色散X荧光镀层膜厚仪,仪器有三维移动平台,清晰的样品观测系统。仪器可以同时检测多个元素,可进行多层镀层分析检测;测量厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同);最小孔径可达0.1mm,也可根据客户产品需求选装0.2mm0.3mm0.5mm准直孔(准直孔已置于仪器内), X/Y/Z平台移动可在软件直接设定移动速度快慢,以方便更好定位; Thick800A不仅测试准确、快速、无损、直观及环保五大特点,而且采用X荧光分析仪器行业最先进探测器技术(SDD)可更好的对样品进行定性和定量。

Thick800A是专门研发用于镀层行业的一款仪器,Thick800A电镀测厚仪可根据自动样品平台进行全自动软件操作,而且还可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,使用起来更加简捷方便。

Thick800A电镀层测厚仪性能特点:

满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm
的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试

采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A电镀层测厚仪技术指标:
元素分析范围从硫(S)到铀(U 
一次可同时分析最多24个元素,五层镀层
分析检出限可达5ppm,最薄可测试0.005μm
分析含量一般为5ppm99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型

度适应范围为1530


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