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镀层厚度测量仪检测技术在质量控制过程中的灵活运用

2017-08-30 16:39:50 optima 8

在镀层厚度测量仪上金属镀厚的过程中,主要有以下几种因素会影响其镀层质量:

§   镀前处理:生产实践证明造成镀层质量事故多数是由于金属制品的镀前处理不当或欠缺所致。镀前处理的每道工序都会直接问影响到镀层质量。

§  电镀溶液:镀液的性质、各组成成分的含量以及附加盐、添加剂的含量等都会影响镀层质量。

§  基体金属:镀层金属与基体金属的结合是否良好,与基体金属的化学性质有密切关系。如基体金属的电位负于镀层金属的电位,或对易于钝化的基体或中间层,若不采取适当的措施,难以获得结合牢固的镀层。

§  电镀过程:电流密度、镀液温度、送电方式、移动和搅拌的速度等,也会直接影响镀层质量。

§  析氢反应:在宁波电镀过程中大多数镀液的阴极反应都伴随着氢气的析出。当析出的氢气黏附在阴极表面上时会产生针孔或麻点;当一部分被还原的氢原子渗入基体金属或镀层中,会使基体金属及镀层的韧性下降而变脆,叫氢脆。氢脆对高强度钢及弹性零件产生的危害尤其严重。

§  镀后处理:镀后对镀件的清洗、钝化、除氢、抛光、保管方法等都会继续影响镀层质量。

§  电源问题:近年来除采用一般的直流电外,根据实际需要广泛采用换向电镀的方法,使用周期换向电流,还有脉冲电源提供的脉冲电流等都会对镀层质量产生影响。

  那么,成品镀件的质量究竟该如何管控呢?

  镀层厚度测量仪重要的方法已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。目前镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

  X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

  金属表面处理技术广泛应用于电子行业,而镀层厚度测量仪处理更是其主要的表现形式,电镀效果也将直接影响电子设备的性能发挥,汽车电子行业也不例外,其中汽车电子连接器端子的电镀将会影响汽车电子设备的导电和信号传输等方面的性能发挥。 目前在汽车电子连接器端子中较为常见的是Sn/Ni/CuZnAu/Ni/CuZnSn/Ni/CuSnAu/Ni/CuSn等镀层结构,日立FT110系列产品能够有效地对应Sn/Ni/CuZnAu/Ni/CuZnSn/Ni/CuSnAu/Ni/CuSn结构的膜厚测量,使用日立FT110Sn/Ni/CuZnAu/Ni/CuZn结构的测量来讨论电镀工艺在质量管理上的重要性。


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