简述X荧光测厚仪样品测试技巧

　　X荧光测厚仪是建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪效能发挥很好，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到一定的效果。接下来和奥谱玛一起了解X荧光测厚仪样品测试技巧。

　　X荧光测厚仪样品测试技巧：

　　1. 样品摆放技巧样品结构对测试影响

　　样品放置原则

　　从正面看，X 射线荧光接受器在所放置样品的前边。必须正确放置样品，保证 X 射线荧光不受干扰地到达探测器。对于标准片之类的表面很平的样品来说，把它们放在测量台上就足够了。 对于棒状的圆柱形样品来说，放置时应注意使样品在测量台上的纵轴与仪器轴平行。

　　1.1样品摆放方向及位置由设备结构决定(结构如下图1)

　　(图1)

　　水平要求：样品测量面与工作台面平行，与X射线方向保持垂直

　　位置要求：长条形和圆柱形样品轴向与计数器保持垂直，以接受更多X荧光(如下图2)

　　(图2)

　　根据上图可以看出，圆柱形的工件正确的放置方法是垂直放置。

　　并且一定要放置到工件正中央轴线上。 角形或台阶式样品的放置十分重要，样品不能挡住 X 荧光

　　2.被测工件与接收器之间的关系

　　被测工件放置方向与接收器之间的关系

　　3.为了正确测量涂镀层厚度，样品的直径￠应大于测试面积的四倍：

　　￠ > 4 M

　　对于曲率半径 r，相应公式为: r > 2M

　　4.异形件

　　保持与测量面水平，不可晃动，垂直截面长轴方向与计数管垂直。

　　5. 细小件

　　保持与测量面水平，不可晃动，垂直截面长轴方向与计数管垂直。设备选用准直器小于测量点。

　　6.工作台面承重，<2KG

　　14 满足样品腔尺寸规格，超出尺寸可打开样品腔适当测量。

　　7. 测量时间的选择。

　　测量时间越长稳定度越好。一般来说，单镀层不少于 15 秒，双镀层和合金比例测量时间不少于 30

　　秒，三镀层测量时间不少于 45 秒，镀液主盐离子浓度测量时间在 30~60 秒之间

　　8. 统一镀层标识方法(参考Fischer)

　　A、单层：如 Au/Ni (Au：表示镀层，Ni：表示底材)

　　B、双层：如 Au/Ni/Cu (Au：表示最上层 Top. Coating)

　　(Ni：表示中间层 Int. Coating)

　　(Cu：表示底材Base)

　　C、合金比例及厚度： 如 SnPb ( % Sn ) / Cu Thickness：

　　表示SnPb(锡铅合金的厚度) Comp.(%)： 表示

　　Sn(锡的比例)，则Pb铅的比例为

　　9. 常用元素符号、原子序数、密度及合金的表示

　　* EN (NiP) (化学镍) (无电解镍)

　　1) 低磷 EN：含磷量 6%以下，密度：8.315

　　2) 中磷 EN：含磷量 7 ~ 9%，密度：8.164

　　3) 高磷 EN：含磷量 10~12%，密度：8.020

　　* 合金铜：

　　1) Bronze (青铜) (铜锡合金，锡含量约 4-6%)

　　2) Brass (黄铜) (铜锌合金，锌含量约 40%)

　　3) Red Brass (红铜) (锌 15%，铜 85%)

　　以上就是奥谱玛整理分享的关于X荧光测厚仪样品测试技巧，经过此文相信大家对品测试技巧有了一定的了解。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。